Оптический микроскоп, сканирующий микроскоп,
     электронный микроскоп, зондовый микроскоп

















Популярные микроскопы









     Оптические микроскопы


     Электронные микроскопы









     Зондовые микроскопы


     Лазерные микроскопы

Сканирующий атомно силовой микроскоп QScan Plus/Pro P300

Сканирующий атомно силовой микроскоп QScan Plus/Pro P300

Ключевым фактором в производительности атомно-силового микроскопа является выбор сканера. Выбранный сканер будет влиять на разрешение, скорость сканирования, диапазон сканирования, и бюджет проекта. Но что происходит, когда ваши потребности постоянно меняются? Для решения этой задачи, мы разработали модель P300 АСМ как высоко модульную систему, которая может приспособиться к различным экспериментальным задачам. Сканер может быть легко заменен, позволяя пользователю изменять сканеры, в зависимости от их применения. Модель P300 АСМ использует открытую архитектуру для пользователей, заинтересованных в добавлении собственных экспериментальных задач. В комплекте с Р300 поставляется интуитивно понятное управляющее программное обеспечение, которое позволяет пользователю проводить эксперименты с минимальной подготовкой. Наша функция сканирования одним нажатием кнопки автоматизирует процесс подготовки и сканирования, позволяя пользователям быстро получать качественные результаты сканирования. Встроенная библиотека сканов и функция управления упрощает сканирование данных и позволяет пользователю легко удалять или экспортировать сканы образцов.

Основные Характеристики

  • Разрешение по оси Z - 0.01 нм
  • Размер пятна лазера - 0.56 мкм
  • Легкая замена сканера с возможностью выбора между различными модификациями, в зависимости от применения, чтобы соответствовать потребностям эксперимента. Сканер можно легко поменять в любой момент.
  • Атомно силовой микроскоп P300
  • Самонастраиваемая выровненная оптическая конструкция - Лазер и детектор не требуют выравнивания
  • Быстрая установка и простота использования - из коробки, система занимает всего несколько минут, чтобы настроить и начать сканировать.
  • Многоязычность (Английский/Китайский/Японский/Корейский/Испанский/Немецкий/Русский языки)
  • Сканирование одним нажатием кнопки - автоматическая настройка,приближение к поверхности, калибровка и сканирование образца в один клик, с использованием интеллектуальных алгоритмов прогнозирования
  • Простота загрузки образца в камеру

Астигматическая Система Детекторов

Большинство традиционных сканирующих зондовых микроскопов основаны на теории отклонении электронного луча в оптической конструкции. Лазерное пятно перемещается вверх и вниз фотодиод D + A, указывающий на верхнее положение , C + B указывая в нижнее положение. Наша астигматическая оптическая конструкция не двигатеся вдоль фотодиодов, но вместо этого изменяет форму для указания вверхнего и нижнего положения. В результате реализации данного подхода к оптическому дизайну лазер и детектор постоянно самовыравниваются.



PSX AFM программное обеспечение

Интуитивно Понятный Пользовательский Интерфейс

Простой пользовательский интерфейс логики позволяет пользователям, чтобы начать сканирование с минимальной подготовкой. Советы и предупреждения руководства пользователей и рекомендует, какие параметры установить для оптимального сканирования состоянии.

Непрерывное усовершенствование и обновление программного обеспечения

Все пользователи имеют доступ к последней версии нашего программного обеспечения, независимо от гарантии. Мы считаем, что разработка программного обеспечения-это непрерывный процесс. Обратную связь мы получаем от нашего сообщества в обновлении программного обеспечения, что позволяет получать опыт, чтобы продолжать становиться лучше.

Функция сканирования одним нажатием кнопки

Функция сканирование одним нажатием кнопки использует интеллектуальные алгоритмы прогнозирования, чтобы помочь пользователю автоматизировать процесс сканирования. После выравнивания зонда, программа позаботится обо всем, включая тюнинг, взаимодействие с образцом, калибровку силовой кривой, и настройку сканирования.

Управление библиотеками и экспорт данных

Все сканы каталогизированы в программном обеспечении в библиотеки с меткой даты и параметров сканирования. Пользователи могут отмечать избранное, удалять ненужные сканы, проводить сканирование и экспортировать в другие аналитические инструменты.

Технические Характеристики

Система
Режим сканирования Полуконтактный метод
Z-Approach Моторизованый
Выравнивание наконечника Автоматически
Частота привода наконечника 20-220 KHz
Z Разррешение 0.01 nm
Вращение 0 - 359
Максимальная скорость сканирования 5 Hz
Высота образца 15 мм
Размер образца - P150 (Max.) 30 мм х 30 мм х 10 мм
Вес образца (Max.) 10 грам
Общие размеры системы 20 cm X 20 cm X 20 cm
Общие размеры контроллера 29 cm X 27 cm X 14 cm
Электроника
Сигнал сканирующего привода ± 10В нет высоких напряжений
Разрешение 16-bit
Данные точек сканирования 128-1024
Программное обеспечение
Данные изображения Топография, фаза, амплитуда, 3D
Измерения X-Z линейный профиль, Y-Z линейный профиль, Уплощение в реальном времени
Оптика - P150
Large-field 2.5D CCD FOV 150 мм x 150 мм
Small-field 2D CCD FOV 200 µm x 200 µm

Различные типы сканеров
Номер модели XYZ диапазон XY разрешение Разрешение Z драйвера Скорость сканирования
PS-100-100-100 100 µm x 100 µm x 100 µm 1 nm 1 nm 2 Hz
PS-100-100-20 100 µm x 100 µm x 20 µm 1 nm 0.3 nm 2 Hz
PS-100-100-5 100 µm x 100 µm x 5 µm 1 nm 0.1 nm 2 Hz
PS-100-100-10 10 µm x 10 µm x 10 µm 0.01 nm 0.01 nm 5 Hz
PS-10-10-5 10 µm x 10 µm x 5 µm 0.01 nm 0.01 nm 5 Hz

Галерея

Сапфировая подложка Графен


Тонкая пленка Кремниевая пластина HOPG TGQ1

Поиск

Контакты

Тел/факс: +7 (499) 393-38-60
Адрес: 107114, Москва, Сокольническая пл, 4А
Email: info@microscop.su